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石龍ICT改造-億昇精工 :
智能插件工作臺(tái),目檢指引機(jī),復(fù)檢機(jī)廠家2、問(wèn):什么是ICT在線測(cè)試儀的隔離技術(shù)?
答:因電路板上的元器件都是串并聯(lián)在一起的,直接測(cè)試會(huì)因周邊零件的影響而造成測(cè)試數(shù)值不準(zhǔn)確,故在ICT里面有一種非常重要的技術(shù),它就是隔離技術(shù),通過(guò)隔離來(lái)去掉其他零件的影響。
3、問(wèn):什么是ICT在線測(cè)試儀相位分離技術(shù)?
答:在電阻并聯(lián)電容或電感時(shí),根據(jù)電容、電感與純電阻對(duì)交流信號(hào)的相位不同之原理來(lái)分別測(cè)試出電阻與電容或電感之?dāng)?shù)值。





ICT在線測(cè)試儀是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況,具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。
飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試,優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具,程序開(kāi)發(fā)時(shí)間短。
針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試,故障覆蓋率高,但對(duì)每種單板需制作的針床夾具,夾具制作和程序開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)。
ICT測(cè)試盲點(diǎn)的原因
8.電容器的電容太小,測(cè)試通常不準(zhǔn)確。
9.IC,晶體振蕩器,可調(diào)電阻器(VR),熱敏電阻,浪涌吸收器和其他組件的內(nèi)部性能無(wú)法測(cè)量或無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試。
10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)銜接,無(wú)法測(cè)量二極管和晶體管。
11.組件的上下點(diǎn)在同一個(gè)短路組中,并且這些組件不可測(cè)試。
12.在IC空焊測(cè)試過(guò)程中,假設(shè)被測(cè)IC的引腳和電容器并聯(lián)銜接,則該引腳假設(shè)斷開(kāi)則不能中止測(cè)試。
13.小電容器與大電容器(C1//C2)并聯(lián)銜接,無(wú)法測(cè)量小電容器。普通來(lái)說(shuō),C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預(yù)測(cè)的。
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